Sumário
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Salvando leitura…
Capítulo 9 · A sala das duas fendas

Uma marca por vez

O experimento que recusa uma única história clássica

A Parte 3 começou no escuro. Um ponto branco surgiu na tela diante de Lia. Depois outro, longe do primeiro. Os intervalos eram longos o bastante para que apenas um elétron estivesse no aparelho por vez. Nenhuma onda contínua de carga iluminava o anteparo; cada chegada era localizada.

Tomás contou cem eventos. A tela parecia salpicada ao acaso. Com mil, regiões mais densas começaram a aparecer. Com dezenas de milhares, faixas claras e escuras emergiram. A posição de cada ponto individual não fora prevista, mas a distribuição inteira seguia uma curva calculável.

Em 1989, Akira Tonomura e colaboradores registraram o acúmulo de um padrão de interferência por elétrons individuais. O aparato usava um biprisma eletrônico — um filamento carregado que separa e recombina amplitudes — e não duas aberturas literais. O resultado realiza a lógica de dois caminhos sem autorizar uma legenda histórica incorreta.

Experimentos com fendas microfabricadas também existiam. Claus Jönsson demonstrara em 1961 interferência eletrônica em conjuntos de fendas artificiais. Em 2013, Roger Bach e colegas controlaram uma máscara diante de uma dupla fenda para medir fenda esquerda, direita e ambas, além de registrar eventos individuais.

Lia observou que as imagens não eram idênticas. Fendas, biprismas e redes têm funções de transmissão e geometrias diferentes. O ponto comum era mais abstrato: o estado chegava ao detector por alternativas coerentes, e a probabilidade dependia da soma de suas amplitudes.

A baixa intensidade eliminava uma explicação tentadora. As franjas não eram causadas por elétrons simultâneos empurrando uns aos outros para faixas. Separar os eventos no tempo não apagava o padrão; apenas tornava sua construção mais lenta.

Tomás limpou a tela e lançou um único elétron. Lia não perguntou onde a franja estava naquele ponto. Franjas são propriedades de uma distribuição. Um evento abre uma possibilidade; muitos eventos testam a regra. A sala ensinaria a não exigir de uma tentativa a forma que só um conjunto pode revelar.

Fontes desta página

  1. Akira Tonomura, Junji Endo, Tsuyoshi Matsuda, Takeshi Kawasaki e Hiroji Ezawa (1989). Demonstration of Single-Electron Buildup of an Interference Pattern.American Journal of Physics, 57, 117–120. Registra em sequência o acúmulo de impactos de elétrons individuais formando franjas num interferômetro de biprisma eletrônico.
  2. Claus Jönsson (1961). Elektroneninterferenzen an mehreren künstlich hergestellten Feinspalten.Zeitschrift für Physik, 161, 454–474. Demonstra difração e interferência de elétrons em fendas artificiais simples e múltiplas microfabricadas.
  3. Roger Bach, Damian Pope, Sy-Hwang Liou e Herman Batelaan (2013). Controlled Double-Slit Electron Diffraction.New Journal of Physics, 15, 033018. Realiza dupla fenda eletrônica controlada, alternando cada abertura e registrando a construção do padrão por eventos individuais.